耳机测试架

      AN-220专门为头戴式耳机音频测试所设计，内置318人工耳符合国际声学测量标准，并带有耳廓可选择使用。左右耳面间距13cm~17cm可调，并提供刻度供参考，极高的测试重复精度。其结构设计稳定牢固，操作重复度高，为头戴式耳机声学测试提供稳定夹具基础。